主题：电声测量

<音响初哥:客户要求，及客户认可！>

对啊.

其实,控制TS參数的容差,就间接地控制了SPL.

其次,如有测量频率响应的工序,就搞定了中高音拼响的容差,

用近场法,测试箱不用太大,比如尺寸1M上下.

不过,这一切都要投入,要客户理解啊.

上图很好.

可以研究一下MIC和扬声器之间的距离.

多少为好?

以要测量的低频下限和上限频率有关系吧.

回答darry:

1.过两天,看看那个短训班上有没有讲.

2.就我个人,我愿意控制TS参数,而不在生产线上去测低频响应曲线.

一是没有必要,

二是低频响应曲线是系统特性,某一单元在那样一个测试箱上所表现的低频响应曲线是系统在箱内那样空间的特性,情况比较复杂,还容易引起客户的误解.

在线上测中高音频响曲线,並控制其容差对高档产品有必要.

然而天上不会掉饼.

如有客户有这样的要求,就要把相应的成本计划进去.

以上仅供参考.