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我也来个有争议的题目：关于单元F0的测试 发帖心情

Post By：2006-2-3 1:40:06 [显示全部帖子]

关于单元F0的测试，相信做过测试的朋友都有这样的经验，对同一个喇叭单元，当使用MLS信号进行测量出的F0会与扫频法得出的F0有不同。

想让大家讨论一下，问题可能会由什么原因造成？什么方法比较准确？

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我也来个有争议的题目：关于单元F0的测试 发帖心情

Post By：2006-2-4 0:56:54 [显示全部帖子]

以下是引用音响初哥在2006-02-03 11:47:51的发言：
其实这是一个精度问题，看哪个仪器能更精确找到阻抗的最高点（取样点的多少很重要）。

又假使这个误差跟精度无关呢？大部分单元出来的误差比系统精度大多了。大家可不实际测量对比一下再作讨论？

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Post By：2006-2-4 9:51:04 [显示全部帖子]

以下是引用音响初哥在2006-02-04 01:09:34的发言：

呵呵，这种对比恐怕是从事这一行的人想不做都不行吧，假如折磨人的（客户）和被折磨的（供应商）使用不同的测试设备，一个使用LMS，一个使用MLSSA，同一个样品的T/S参数两个系统测出来就比较不同（比如LMS测出的Qt偏低），这种情况遇到过N次了，没什么好奇怪的！

比较测量的精确度，肯定用同一个待测件了，因此单元的设计误差和这是两回事！

看来我比较笨，说的不明白，这里撇开其他的不同，例如QT等，只谈F0，

也正如初哥兄下面的例子，就是一个F0这么简单，两种方法测量的差异在2HZ左右（一个65一个67HZ），这肯定就不是系统精度造成的啦，难道系统的精度或不到2HZ？----------或者说系统取样点相隔居然达到HZ级？有没有搞错？

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Post By：2006-2-4 23:22:28 [显示全部帖子]

以下是引用音响初哥在2006-02-04 16:16:11的发言：

呵呵，当我啥也没说过！。。。。。。

呵呵，初哥兄，可能我的语气有问题，请谅解

我提的这个问题，大概在2年前国外的一个讨论组里也引起了长篇大讨论，各种解释都有。

特别是在一些支持多种测试方式的同一系统中，其得到的阻抗曲线也是不一样的，因此我本人也比较疑惑，希望大家能讨论讨论。

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Post By：2006-2-7 1:12:14 [显示全部帖子]

以下是引用老干部在2006-02-05 14:03:35的发言：
NHK一直在做音箱的比较，在房间的主监听这类音箱上他们一般在低频都测量3根曲线，50毫瓦，1瓦，200瓦。很有趣的是这3根曲线并不重合，有些型号小信号比较平，有些型号大信号比较平。

50MW、1W、200W的不重合，那是很容易解释的。

倒是同一电平下，不同方法得到的阻抗曲线或者初哥说的那种现象值的考虑考虑

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